Артикул: 38395
Шлейф WYLIE для тестирования модуля Face ID iPhone X / XS / XS Max
Позволяет осуществить проверку результата восстановления Dot Projector Face ID и его идеальную центровку до окончательной фиксации на клей, что существенно сокращает время ремонта и снижает риск повреждения шлейфа при многократном монтаже и демонтаже элементов.
1 200 Руб
Возможно, для отгрузки данного товара потребуется чуть больше времени, чем обычно.